UMA COMBINAÇÃO ÚNICA DE PLASMA FIB E FE-SEM DE RESOLUÇÃO ULTRAELEVADA PARA UMA GAMA ALARGADA DE APLICAÇÕES EM CARACTERIZAÇÃO DE MATERIAIS MULTI-ESCALA


TESCAN AMBER X
é uma solução única FIB-SEM que combina um plasma FIB de Xénon com um Microscópio Eletrónico de Varrimento por Emissão de Campo, de resolução ultraelevada, para aplicações que requerem caracterização de materiais multiescala e preparação de amostras, sem contaminação e/ou modificação por Ga. A combinação de rapidez com precisão do processo de FIB e análise de imagem com elevada resolução torna o TESCAN AMBER X a solução ideal para caracterização de materiais em larga escala (até 1 mm de largura) em corte, tomografia em multi-escala para reconstrução 3D e observação da morfologia; estudos de orientação cristalina e/ou análise elementar e fabricação de micro- e nano-estruturas, utilizando o feixe de iões, para subsequentes testes ou caracterização por outros métodos analíticos.

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