NenoVision LiteScope – AFM para SEM

Microscópio de força atómica projetado para fácil integração nos microscópios eletrónicos de varrimento. A combinação de técnicas complementares de SPM e SEM permite usar as vantagens de ambas as técnicas de microscopia comumente usadas.

Explore a nova técnica de caracterização 3D de Materiais de Sonda Correlativa e Microscopia Eletrónica


Análise abrangente de amostras, incluindo:

  • Caracterização da topografia superficial
  • Propriedades mecânicas
  • Propriedades elétricas
  • Propriedades magnéticas


O LiteScope ™ também pode ser combinado com outros acessórios SEM, como FIB e SIG para fabricação de estruturas nano / micro e modificações de superfície. Nesta combinação, o LiteScope ™ oferece inspeção 3D fácil e rápida de estruturas fabricadas.

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para mais informações e explore adicionalmente em https://www.nenovision.com/