NenoVisionLiteScope
NenoVision LiteScope – AFM para SEM
Microscópio de força atómica projetado para fácil integração nos microscópios eletrónicos de varrimento. A combinação de técnicas complementares de SPM e SEM permite usar as vantagens de ambas as técnicas de microscopia comumente usadas.
Explore a nova técnica de caracterização 3D de Materiais de Sonda Correlativa e Microscopia Eletrónica
Análise abrangente de amostras, incluindo:
Caracterização da topografia superficial
Propriedades mecânicas
Propriedades elétricas
Propriedades magnéticas
O LiteScope ™ também pode ser combinado com outros acessórios SEM, como FIB e SIG para fabricação de estruturas nano / micro e modificações de superfície. Nesta combinação, o LiteScope ™ oferece inspeção 3D fácil e rápida de estruturas fabricadas.
Contacte-nos para mais informações e explore adicionalmente em https://www.nenovision.com/