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LiteScope

NenoVisionLiteScope






NenoVision LiteScope – AFM para SEM


Microscópio de força atómica projetado para fácil integração nos microscópios eletrónicos de varrimento. A combinação de técnicas complementares de SPM e SEM permite usar as vantagens de ambas as técnicas de microscopia comumente usadas.


Explore a nova técnica de caracterização 3D de Materiais de Sonda Correlativa e Microscopia Eletrónica
















Análise abrangente de amostras, incluindo:


  • Caracterização da topografia superficial

  • Propriedades mecânicas

  • Propriedades elétricas

  • Propriedades magnéticas



O LiteScope ™ também pode ser combinado com outros acessórios SEM, como FIB e SIG para fabricação de estruturas nano / micro e modificações de superfície. Nesta combinação, o LiteScope ™ oferece inspeção 3D fácil e rápida de estruturas fabricadas.


Contacte-nos para mais informações e explore adicionalmente em https://www.nenovision.com/

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