LiteScope AFM-in-SEM

O exclusivo LiteScope Atomic Force Microscope foi projetado para combinar as vantagens das técnicas AFM (Microscopia de Força Atômica) e SEM (Microscopia Eletrônica de Varrimento), resultando em um fluxo de trabalho eficiente e ampliando as possibilidades de microscopia correlativa e análise in-situ, que seriam difíceis ou quase impossíveis com instrumentação convencional.
 
Análise multimodal e correlativa in-situ, Fluxo de trabalho otimizado e eficiente em termos de tempo M Desempenho máximo dentro do SEM e Design de hardware aberto para fácil personalização.