ModuLab XM MTS

O ModuLab XM MTS pode realizar testes no domínio do tempo (CC) e no domínio da frequência (CA). Os acessórios controlam a temperatura desde níveis de criostato até fornos e integram-se, por meio de controlo de software, com a eletrónica de medição principal para criar um sistema capaz de estudar uma ampla gama de materiais. Como outros sistemas da plataforma ModuLab, ele pode ser expandido para experiências eletroquímicas ou fotoeletroquímicas.
O gráfico de contorno da precisão da impedância do ModuLab MTS XM destaca o desempenho de medição de classe mundial da Solartron.
O ModuLab MTS XM é um sistema modular que pode ser configurado para as seguintes aplicações:
-Materiais Dieletricos:Ferro/piezoelétricos | MEMs | NEMs | Multiferroicos |Polímeros | Óxidos sólidos SOFC | Condutores iônicos |Eletrolitos sólidos, pontos quânticos | Materiais Eletrônicos | LED | LCD | OLED | MEMs | OPV | Si | DSSC | OFET | Ge | GaAs | Materiais Perovskita                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                        -Faixa de impedância mais ampla - de µohms a >100 Tohms
-Mudança instantânea entre medições no domínio do tempo (IV, pulso rápido) e no domínio da frequência (C-V, impedância, Mott-Schottky) sem a necessidade de alterar as ligações da amostra
-Baixa frequência até 10 µHz para estudos de degradação, estados de encapsulamento e pureza de materiais
-Opções Plug and Play incluem – modos Femto e Amostra/Referência (para dielétricos/isolantes)
O software XM-Studio está incluído com todos os sistemas da série XM
O gráfico de contorno de precisão de impedância do ModuLab XM MTS destaca o desempenho de medição de classe mundial da Solartron.